物位測量的基本原理

  在物位側量中，盡管各種測量方法所用的技術各不相同，但可把它們歸納為以下幾種測量原理：

  (1)基于力學原理

  敏感元件所受到的力(壓力)的大小與物位成正比，它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測量等。

  (2)基于相對變化原理

  當物位變化時，物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變，通過測量距離的相對變化可獲得物位的信息。這種測量原理包括聲學法、微波法和光學法等。

  (3)基于某強度性物理量隨物位的升高而增加原理

  例如對射線的吸收強度，電容器的電容量等。